Всего ГОСТов в категории: 16, документов для скачивания: 12

ГОСТ Р 8.628-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления

    Статус:
    действует
    Страниц:
    12
    Ключевые слова:
    длина, зондовые сканирующие атомно-силовые измерительные микроскопы, материал, монокристаллический кремний, размеры, растровые электронные измерительные микроскопы, рельефные меры нанометрового диапазона, формы
ГОСТ Р 8.629-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки

    Статус:
    действует
    Страниц:
    21
    Ключевые слова:
    лазерный интерферометр, методика поверки, рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов, сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп
ГОСТ Р 8.630-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

    Статус:
    действует
    Страниц:
    15
    Ключевые слова:
    длина, методика поверки, рельефные меры нанометрового диапазона, сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные микроскопы
ГОСТ Р 8.631-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки

    Статус:
    действует
    Страниц:
    15
    Ключевые слова:
    длина, методика поверки, растровые электронные измерительные микроскопы, рельефные меры нанометрового диапазона
ГОСТ Р 8.635-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки

    Статус:
    действует
    Страниц:
    11
    Ключевые слова:
    длина, методика калибровки, рельефные меры нанометрового диапазона, сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы
ГОСТ Р 8.636-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки

    Статус:
    действует
    Страниц:
    11
    Ключевые слова:
    длина, методика калибровки, растровые электронные микроскопы, рельефные меры нанометрового диапазона
ГОСТ 8.591-2009

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки

    Статус:
    действует
    Страниц:
    16
    Ключевые слова:
    лазерный интерферометр, методика поверки, рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов, сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп
ГОСТ 8.592-2009

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления

    Статус:
    действует
    Страниц:
    12
    Ключевые слова:
    длина, зондовые сканирующие атомно-силовые микроскопы, материал, монокристаллической кремний, размеры, растровые электронные микроскопы, рельефные меры нанометрового диапазона, формы
ГОСТ 8.593-2009

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

    Статус:
    действует
    Страниц:
    12
    Ключевые слова:
    длина, методика поверки, рельефные меры нанометрового диапазона, сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы
ГОСТ Р 8.644-2008

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки

    Статус:
    действует
    Страниц:
    20
    Ключевые слова:
    лазерный интерферометр, методика калибровки, рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов, сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп
ГОСТ Р 8.696-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

    Статус:
    действует
    Страниц:
    16
    Ключевые слова:
    интенсивность токовых рефлексов, межплоскостные расстояния в кристаллах, методика выполнения измерений, нанокристаллы, тонкие пленки, электронный дифрактометр
ГОСТ Р 8.697-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа

    Статус:
    действует
    Страниц:
    16
    Ключевые слова:
    межплоскостные расстояния в кристаллах, методика выполнения измерений, нанокристаллы, просвечивающий электронный микроскоп, тонкие пленки
ГОСТ Р 8.698-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

    Статус:
    действует
    Страниц:
    40
    Ключевые слова:
    методика выполнения измерений, моно- и полидисперсные системы наночастиц, наночастицы, период повторения, рентгеновский малоугловой дифрактометр, тонкие многослойные пленки, электронный радиус инерции
ГОСТ Р 8.700-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа

    Статус:
    действует
    Страниц:
    16
    Ключевые слова:
    методика измерений, поверхность, сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп, твердые тела, эффективная высота шероховатости поверхности
ГОСТ Р 8.763-2011

Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 1·10 в степени -9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм

    Статус:
    действует
    Страниц:
    15
    Ключевые слова:
    государственный первичный эталон, лазер, плоскопараллельная концевая мера длины, поверочная схема, рельефная мера, сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп, средство измерений, штриховая мера длины, электронный растровый измерительный микроскоп, эталон
эталон нанокристаллы поверхность сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы твердые тела методика выполнения измерений тонкие пленки материал растровые электронные микроскопы рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов средство измерений штриховая мера длины формы растровые электронные измерительные микроскопы лазерный интерферометр лазер размеры электронный растровый измерительный микроскоп методика измерений плоскопараллельная концевая мера длины поверочная схема методика поверки рельефные меры нанометрового диапазона методика калибровки рельефная мера межплоскостные расстояния в кристаллах сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп длина эффективная высота шероховатости поверхности государственный первичный эталон
Поделись своей библиотекой стандартов с другими!
    Для загрузки Вы можете выбрать один или несколько файлов форматов PDF, DOC, DOCX (MS Word), ODT (Open Office) ZIP или RAR. Максимальный размер одного файла - 10 Мб.