Всего ГОСТов в категории: 16, документов для скачивания: 12

ГОСТ Р 8.628-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления

    Статус:
    действует
    Страниц:
    12
    Ключевые слова:
    длина, зондовые сканирующие атомно-силовые измерительные микроскопы, материал, монокристаллический кремний, размеры, растровые электронные измерительные микроскопы, рельефные меры нанометрового диапазона, формы
ГОСТ Р 8.629-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки

    Статус:
    действует
    Страниц:
    21
    Ключевые слова:
    лазерный интерферометр, методика поверки, рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов, сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп
ГОСТ Р 8.630-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

    Статус:
    действует
    Страниц:
    15
    Ключевые слова:
    длина, методика поверки, рельефные меры нанометрового диапазона, сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные микроскопы
ГОСТ Р 8.631-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки

    Статус:
    действует
    Страниц:
    15
    Ключевые слова:
    длина, методика поверки, растровые электронные измерительные микроскопы, рельефные меры нанометрового диапазона
ГОСТ Р 8.635-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки

    Статус:
    действует
    Страниц:
    11
    Ключевые слова:
    длина, методика калибровки, рельефные меры нанометрового диапазона, сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы
ГОСТ Р 8.636-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки

    Статус:
    действует
    Страниц:
    11
    Ключевые слова:
    длина, методика калибровки, растровые электронные микроскопы, рельефные меры нанометрового диапазона
ГОСТ 8.591-2009

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки

    Статус:
    действует
    Страниц:
    16
    Ключевые слова:
    лазерный интерферометр, методика поверки, рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов, сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп
ГОСТ 8.592-2009

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления

    Статус:
    действует
    Страниц:
    12
    Ключевые слова:
    длина, зондовые сканирующие атомно-силовые микроскопы, материал, монокристаллической кремний, размеры, растровые электронные микроскопы, рельефные меры нанометрового диапазона, формы
ГОСТ 8.593-2009

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

    Статус:
    действует
    Страниц:
    12
    Ключевые слова:
    длина, методика поверки, рельефные меры нанометрового диапазона, сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы
ГОСТ Р 8.644-2008

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки

    Статус:
    действует
    Страниц:
    20
    Ключевые слова:
    лазерный интерферометр, методика калибровки, рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов, сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп
ГОСТ Р 8.696-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

    Статус:
    действует
    Страниц:
    16
    Ключевые слова:
    интенсивность токовых рефлексов, межплоскостные расстояния в кристаллах, методика выполнения измерений, нанокристаллы, тонкие пленки, электронный дифрактометр
ГОСТ Р 8.697-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа

    Статус:
    действует
    Страниц:
    16
    Ключевые слова:
    межплоскостные расстояния в кристаллах, методика выполнения измерений, нанокристаллы, просвечивающий электронный микроскоп, тонкие пленки
ГОСТ Р 8.698-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

    Статус:
    действует
    Страниц:
    40
    Ключевые слова:
    методика выполнения измерений, моно- и полидисперсные системы наночастиц, наночастицы, период повторения, рентгеновский малоугловой дифрактометр, тонкие многослойные пленки, электронный радиус инерции
ГОСТ Р 8.700-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа

    Статус:
    действует
    Страниц:
    16
    Ключевые слова:
    методика измерений, поверхность, сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп, твердые тела, эффективная высота шероховатости поверхности
ГОСТ Р 8.763-2011

Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 1·10 в степени -9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм

    Статус:
    действует
    Страниц:
    15
    Ключевые слова:
    государственный первичный эталон, лазер, плоскопараллельная концевая мера длины, поверочная схема, рельефная мера, сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп, средство измерений, штриховая мера длины, электронный растровый измерительный микроскоп, эталон
тонкие пленки материал сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп размеры длина рельефные меры нанометрового диапазона плоскопараллельная концевая мера длины растровые электронные измерительные микроскопы рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов поверхность электронный растровый измерительный микроскоп формы твердые тела государственный первичный эталон методика выполнения измерений поверочная схема средство измерений нанокристаллы сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы штриховая мера длины эталон методика поверки лазер лазерный интерферометр методика калибровки эффективная высота шероховатости поверхности межплоскостные расстояния в кристаллах растровые электронные микроскопы методика измерений рельефная мера
Поделись своей библиотекой стандартов с другими!
    Для загрузки Вы можете выбрать один или несколько файлов форматов PDF, DOC, DOCX (MS Word), ODT (Open Office) ZIP или RAR. Максимальный размер одного файла - 10 Мб.