17.40.01 Линейные и угловые измерения в целом

ГОСТ Р 8.628-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления

Статус:

действует

Страниц:

12

Ключевые слова:

длина, зондовые сканирующие атомно-силовые измерительные микроскопы, материал, монокристаллический кремний, размеры, растровые электронные измерительные микроскопы, рельефные меры нанометрового диапазона, формы

Версий документов для ГОСТ Р-8.628-2007 не найдено

ГОСТ Р 8.629-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки

Статус:

действует

Страниц:

21

Ключевые слова:

лазерный интерферометр, методика поверки, рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов, сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп

Версий документов для ГОСТ Р-8.629-2007 не найдено

ГОСТ Р 8.630-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

Статус:

действует

Страниц:

15

Ключевые слова:

длина, методика поверки, рельефные меры нанометрового диапазона, сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные микроскопы

Версий документов для ГОСТ Р-8.630-2007 не найдено

ГОСТ Р 8.631-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки

Статус:

действует

Страниц:

15

Ключевые слова:

длина, методика поверки, растровые электронные измерительные микроскопы, рельефные меры нанометрового диапазона

Версий документов для ГОСТ Р-8.631-2007 не найдено

ГОСТ Р 8.635-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки

Статус:

действует

Страниц:

11

Ключевые слова:

длина, методика калибровки, рельефные меры нанометрового диапазона, сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы

Версий документов для ГОСТ Р-8.635-2007 не найдено

ГОСТ Р 8.636-2007

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки

Статус:

действует

Страниц:

11

Ключевые слова:

длина, методика калибровки, растровые электронные микроскопы, рельефные меры нанометрового диапазона

Версий документов для ГОСТ Р-8.636-2007 не найдено

ГОСТ 8.591-2009

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки

Статус:

действует

Страниц:

16

Ключевые слова:

лазерный интерферометр, методика поверки, рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов, сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп

Версий документов для ГОСТ-8.591-2009 не найдено

ГОСТ 8.592-2009

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления

Статус:

действует

Страниц:

12

Ключевые слова:

длина, зондовые сканирующие атомно-силовые микроскопы, материал, монокристаллической кремний, размеры, растровые электронные микроскопы, рельефные меры нанометрового диапазона, формы

Версий документов для ГОСТ-8.592-2009 не найдено

ГОСТ 8.593-2009

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

Статус:

действует

Страниц:

12

Ключевые слова:

длина, методика поверки, рельефные меры нанометрового диапазона, сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы

Версий документов для ГОСТ-8.593-2009 не найдено

ГОСТ 8.594-2009

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки

Статус:

действует

Страниц:

12

Ключевые слова:

длина, методика поверки, растровые электронные микроскопы, рельефные меры нанометрового диапазона

Версий документов для ГОСТ-8.594-2009 не найдено

ГОСТ Р 8.644-2008

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки

Статус:

действует

Страниц:

20

Ключевые слова:

лазерный интерферометр, методика калибровки, рельефные меры нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов, сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп

Версий документов для ГОСТ Р-8.644-2008 не найдено

ГОСТ Р 8.696-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

Статус:

действует

Страниц:

16

Ключевые слова:

интенсивность токовых рефлексов, межплоскостные расстояния в кристаллах, методика выполнения измерений, нанокристаллы, тонкие пленки, электронный дифрактометр

Версий документов для ГОСТ Р-8.696-2010 не найдено

ГОСТ Р 8.697-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа

Статус:

действует

Страниц:

16

Ключевые слова:

межплоскостные расстояния в кристаллах, методика выполнения измерений, нанокристаллы, просвечивающий электронный микроскоп, тонкие пленки

Версий документов для ГОСТ Р-8.697-2010 не найдено

ГОСТ Р 8.698-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

Статус:

действует

Страниц:

40

Ключевые слова:

методика выполнения измерений, моно- и полидисперсные системы наночастиц, наночастицы, период повторения, рентгеновский малоугловой дифрактометр, тонкие многослойные пленки, электронный радиус инерции

Версий документов для ГОСТ Р-8.698-2010 не найдено

ГОСТ Р 8.700-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа

Статус:

действует

Страниц:

16

Ключевые слова:

методика измерений, поверхность, сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп, твердые тела, эффективная высота шероховатости поверхности

Версий документов для ГОСТ Р-8.700-2010 не найдено

ГОСТ Р 8.763-2011

Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 1·10 в степени -9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм

Статус:

действует

Страниц:

15

Ключевые слова:

государственный первичный эталон, лазер, плоскопараллельная концевая мера длины, поверочная схема, рельефная мера, сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп, средство измерений, штриховая мера длины, электронный растровый измерительный микроскоп, эталон

Доступные для скачивания версии ГОСТ Р-8.763-2011:

PDF

скачать ГОСТ Р-8.763-2011

0.78 Мб